DDR SDRAM ~メモリの役割と規格について~ 2021年7月6日2022年12月6日 みなさん、はじめまして。東京事業所パッケージ設計課の安藤です。 今回は、DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)について紹介します。 DDR SDRAMがどんな物に使われているかというと、パソコンをイメージしていただくのが最も分かりやすいと思います。パソコンの気になるスペックの一つとしてメモリが挙げられますが、そのメモリに使われているのがDDR SDRAMです。 続きを読む → WTIブログ, シミュレーション, 基板設計
半導体パッケージの組立工程紹介『ダイボンド』 2021年6月29日2024年10月1日 みなさん、こんにちは。 高周波デバイス設計課の前田です。 前回のブログではウエハ上に複数形成された半導体素子(以下、素子)を分割するウエハダイシング工程について紹介しました。今回は素子をパッケージに搭載する“ダイボンド”工程について、触れてみたいと思います。 続きを読む → WTIブログ, 半導体パッケージ
EOL対策における代替品調査 ~水晶発振器を例に~ 2021年6月8日2021年6月2日 皆様、初めまして。入社4年目、第一技術部 高周波機器設計課の北林と申します。 よろしくお願いいたします。 私が担当する業務のひとつに、EOL対策(生産中止となる電子部品の代替品調査や置き換え)があります。 EOLになる部品の種類はさまざまで、用途に適した部品を選ぶには電子部品ごとの特徴を詳しく理解することが重要になってきます。私自身もまだまだ知らないことが多く、日々知見を深めながら対応を進めています。 今回は、デジタル回路には欠かせないクロックを生成する「水晶」を例にとって説明したいと思います。 (当社のEOL対応(生産中止・ディスコン)はこちら) 続きを読む → EOL・ディスコン, WTIブログ
電源評価の際の安全対策の話 2021年5月17日 みなさん、こんにちは。第二技術部 電源設計課 電源設計第一ユニットの島村です。 今回は電源評価を行う際の考慮すべき安全対策の一つをご紹介します。 【関連リンク】 カスタム電源設計サービス紹介ページ 電源(パワエレ)・ワイヤレス給電(WPT)紹介ページ EOL対応(生産中止・ディスコン) 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
原理検証のご紹介 2021年5月11日2021年4月26日 みなさんこんにちは。システム設計課の米谷です。 WTIではお客様のご要望に合わせて設計開発を行っておりますが、今回は原理検証についてお話しします。ここでの原理検証とは本格的な製品設計を開始する前に基本動作や特性の確認を行うことを指しています。 (当社の電気設計受託サービス、サブスクエンジニアリングサービスはこちら) 続きを読む → WTIブログ, 回路設計
感電とは 2021年4月16日2021年4月16日 みなさん、こんにちは。電源設計課 渡邊です。 私は前回、【WTIブログ:ブレーカーの種類と役割】の中で、遮断器(ブレーカー)は、一般の家庭に設置している分電盤にもある、とお話ししました。 その役割は大別して「契約の順守(電流値)」=アンペアブレーカーと、安全の確保」=漏電ブレーカー・安全ブレーカーでした。そこで、今回は安全に関連したお話をしたいと思います。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
半導体パッケージの「反り」の発生と測定方法 2021年3月30日2022年12月7日 皆さんこんにちは。 東京事業所パッケージ設計課の佐々谷です。 今回は半導体パッケージの評価・解析の評価項目の一つである「反り」について説明させていただきます。 続きを読む → WTIブログ, 半導体パッケージ, 評価・試験
今見ている波形は本当に正しい? 2021年3月25日2021年3月24日 みなさんこんにちは。システム設計課の寺藤です。 みなさんが信号波形を観測する際、多くの場合はオシロスコープを使用されると思います。今日はそのオシロスコープで見ている波形は本当に正しいのか?ということについてお話しします。 (当社の電気設計受託サービスはこちら) まず始めにオシロスコープ本体についてです。 続きを読む → WTIブログ, 回路設計, 評価・試験
オンウエハRF測定はちょっとコツが要ります 2021年3月23日2021年3月22日 みなさんこんにちは、第一技術部 高周波デバイス設計課の北村です。 (WTIの高周波(RF)・無線 設計受託はコチラ) 高周波デバイス設計課では、増幅素子をはじめとした、高周波で使われる半導体デバイスを扱っています。製品開発の過程では、ウエハの状態で高周波特性を測定する「オンウエハ評価」を行うこともあります。私はこれまでこのオンウエハ評価に携わってきました。この業務において、初めてオンウエハ評価を行う方が「難しい」と感じることが多いのが、RFプローブの取り扱いです。今回はこのRFプローブの取り扱いについてお話しさせていただきます。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 高周波・無線
SiCのMOSFETについて 2021年3月16日2021年3月15日 みなさん、こんにちは。 第二技術部電源設計課の富永です。 今回が、2回目の登場になります。 前回のブログ『SiCデバイスを使って電源を高効率化してみました』では、SiCのダイオードについてお話しさせていただきましたので、今回はMOSFETについて、お話ししたいと思います。 (当社の「パワーモジュール」評価サービスはこちら/カスタム電源設計サービスはこちら) 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ