Wave Technology(WTI) | 半導体周辺回路とその応用製品の開発・設計会社

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スイッチング電源の評価・試験項目について

みなさん、こんにちは。第二技術部電源設計課の田川です。

今回が2回目の登場になります。前回は、“電源”という言葉をKeyにしてお話しさせていただきましたが、今回はスイッチング電源に関わる電気的評価についてお話ししたいと思います。

スイッチング電源の主な評価・試験項目と実施内容を以下の表に挙げています。

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BGAパッケージの評価と解析方法

こんにちは。構造設計課の萩原です。

以前に、本ブログで「光ファイバ」についてお話をさせていただきました。
その後、構造設計課に転属しまして、過去にも経験のある信頼性評価と、構造解析を担当しています。

さて今回は「BGAパッケージ」の解析手法について、お話をしましょう。

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自動計測のすゝめ ~計測器制御のキホン~

はじめまして。第二技術部 カスタム技術課の傳田です。

2018年度新卒でWTIに入社して、今年で3年目に突入しています。カスタム技術課へ配属後は、主に自動計測システムや計測器制御用アプリケーション開発業務に従事しながら、「計測」に関する技術について日々勉強しております。
よろしくお願いいたします。

皆さんは大学の学生実験や中学・高校の物理の実験などで、こんな記憶はないでしょうか?

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温度サイクル試験のデータは、「Excelでひたすら整理」ですか? ~自動化ツールで手作業のデータ収集・解析にさようなら~

温度サイクル試験を行う際に、データ・ロガーでデータを収集したあとのデータ整理・解析は、どのようにするのが良いのでしょうか?

とにかくExcelにデータを移して、あとは根気強く欲しいデータを取り出したり、計算したり・・・、でしょうか?

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カーブトレーサでの評価 ~手動は面倒?それなら自動化!~

初めまして。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。

皆さんはMOSFETやバイポーラトランジスタ等の半導体の電気特性を評価する際、どのような計測器を使用されていますか?
専用のテスタもありますが、手軽に評価できるカーブトレーサも便利ですよね♪

でもカーブトレーサを使用する時、「評価項目が多いから、手動で操作は面倒だな・・」、「評価数も多いから、もっと簡単に操作できたらいいな・・」と思ったことはありませんか?

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パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その1~

みなさん、こんにちは。
パワーデバイス設計課の中松です。

前回のブログでは短絡試験についてお話ししましたが、今回は破壊試験繋がりで、パワーMOSFETのアバランシェ耐量試験についてお話ししたいと思います。
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