Wave Technology(WTI) | 半導体周辺回路とその応用製品の開発・設計会社

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

「リバースエンジニアリングPlus」でレポート売りを始めます!

みなさんこんにちは。第二技術部 カスタム技術課の山本です。

2018年度にカスタム技術課に異動して、今年で3年目に突入しています。今回は、私が担当している「リバースエンジニアリングPlus」の新しい試みについての情報を、事前にお知らせします。

弊社では「お客様からのご依頼品を解析するスタイル」でリバースエンジニアリングPlus事業を展開しています。この仕事は、いろんな分野の技術に触れることができるので、技術者としての知見を広げられる面白い仕事だと感じています。

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電源の制御方式とLED駆動

みなさんこんにちは、電源設計課の藤田です。

私は、電源の回路設計に従事しており、日々多種多様な電源を目にしています。
電源の制御方式にはいろいろなものがありますが、一般的によく目にするのは、下記2種類の電源が多いと思います。

① 常に電圧値が一定になるように制御している定電圧電源

② 常に電流値が一定になるように制御している定電流電源

今回は、上記②の定電流電源についてお話ししたいと思います。

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「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい? ~その2~

みなさんこんにちは。
第二技術部の張です。

前回のブログでは、パワー半導体のスイッチング評価において、測定環境が重要であることをお話ししました。今回も前回に引き続き測定環境に関する話をさせていただきます。

パワー半導体のスイッチング評価を行う測定環境を改善するために配線を見直すことがありますが、実は測定系の回路インダクタンスの大きさが定量的にわからないと改善は難しいのです。

ということで、今回は回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法についてお話しします。

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リニアレギュレーターやDCDCコンバータなどの電源ICの中に入っている基準電圧源について

みなさんこんにちは。電源設計課の合田です。

今回はリニアレギュレーターやDCDCコンバータなどの電源ICの中に入っている基準電圧源についてお話しします。

皆さんが何気なく使っているリニアレギュレーターやDCDCコンバータですが、電源を入れると当たり前のように所望の出力電圧が出てきますよね。なぜその電圧が安定して出力されるのだろう? と疑問に思ったことはないでしょうか?

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マイコンに搭載されているA/Dコンバータと入力ノイズについて

みなさんこんにちは。電源設計課の合田です。

現在私は、パワーコンディショナの開発に携わっています。パワーコンディショナとは、太陽光発電などの再生可能エネルギー(自然エネルギー)を、みなさんが家庭で使っている商用の交流に変換するためインバータ装置のことです。パワーコンデショナを略してパワコンとも呼ばれています。

今回は、パワコン制御の中心となる制御基板のマイコンに搭載されているA/Dコンバータ(ADC:Analog to Digital Converter アナログ-デジタル変換器)関連の話をしたいと思います。

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データ解析は自動化で効率アップ!

こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。

皆さんは、評価解析などで各種計測器から収集したデータをレポート化する際、どのようにしていますか?手動で根気よくデータを並べ替えたり、グラフを作成したり・・・という方も多いのではないでしょうか。

着実にコツコツと整理していく方法の場合、少量のデータなら手間は掛かりませんが、量が膨大になると、非常に時間が掛かり効率も悪いと思います。間違いがあった場合は一からやり直し・・・なんてことにもなりかねません。

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計測装置の自動制御

みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。

今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。

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パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その3~

みなさん、こんにちは。
パワーデバイス設計課の中松です。

前回のブログでお話ししたパワーMOSFETのアバランシェ耐量試験の続きです。

前回、アバランシェエネルギーが同じであっても、試験条件が異なればMOSFETのジャンクション温度Tjは異なるため、単純に比較できないことをご説明しました。では、前回と同じデバイスで、L負荷の値L=3 µH、アバランシェ電流IAS=50 Aの場合(ケース③)を考えてみましょう。

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信頼性試験について知ろう!(パワーサイクル試験編)

こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。

突然ですが、皆さんは『信頼性試験』をご存知ですか?

ざっくり説明しますと、製品の信頼性(性能、耐久性、安全性、故障率など)を評価する様々な試験の総称です。主な目的は、設計どおりの性能となっているか確認することと、市場要求品質を満たしているかを評価することです。

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PC98を使い続けるためには ~物作りの現場の生産設備周辺機器老朽化対策に一工夫!お客様の生産性を改善します~

みなさん、こんにちは。
初めての登場になります。
パワーデバイス設計課の島雄です。

私は半導体の生産に関わる業務に携わっています。
そこで今回、私の身近でありましたお客様の生産装置のお困り事についてお話ししたいと思います。

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