設計者は「設計」に時間を充てられているか? 2021年4月28日2021年4月28日 お客様の「開発設計促進業」株式会社Wave Technology(WTI)の社長 石川高英です。 近年、当社にご依頼いただく仕事の中で、お客様の開発設計の「側面サポート」の分野が増えてきておりますので、本日はそのお話をしようと思います。 当社は、お客様の開発設計の効率やスピードを上げることに貢献する「開発設計促進業」ですが、受託する業務は、以下の2種類に大別されます。 続きを読む → リバースエンジニアリング, 代行サービス, 機構(筐体), 生産中止・EOL, 社長ブログ, 計測システム, 電波暗室・EMI
「パワーデバイスの基礎講座」のご紹介 2021年3月24日2021年3月22日 みなさんこんにちは。 営業の塩谷です。 今回は、「パワーデバイスの基礎講座」のご紹介をさせていただきます。 (当社の技術講座・オンライン講座はコチラ) 講座の紹介の前に、「パワーデバイスとは?」どういうデバイスかわかりますでしょうか?「聞いたことはあるけどよくわからない」、「聞いたこともない」という方もおられると思いますので簡単に説明します。 (当社の「パワーモジュール」評価サービスはコチラ) 続きを読む → WTIブログ, 営業, 教育, 電源・パワエレ
シャント抵抗について ~高精度に抵抗値を測定したい方へ~ 2021年2月24日2021年2月26日 こんにちは、パワーデバイス設計課の中本です。 よろしくお願いします。 2021年の3月11日で東日本大震災からちょうど10年の節目を迎えますが、2月13日に大きな地震が同様の場所で発生しました。専門家のインタビューで東日本大震災の余震であるとのコメントを聞きました。防災セットやポータブル電源を備えていた方、お風呂の水を貯めた方、その他10年前の教訓を生かして行動された方も多くいたようで、被災地の方の危機管理意識の高さに感心しました。 さて本題です。前回のブログではパワー半導体の評価に使用するオシロスコープの基礎知識について書かせていただきました。今回はパワエレ分野で使うシャント抵抗について書こうと思います。 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
chemSHERPAのバージョン2.02で対応追加となるSCIPって何? 2021年1月20日2021年1月20日 みなさん、こんにちは。 技術教育センターの原田です。 製品に含まれている環境負荷物質情報を伝達するchemSHERPAのバージョンアップが2020年10月に行われました。今回の2.02へのバージョンアップで、SCIPデータベース対応が追加されました。 え?SCIPデータベースって何?どんなことをするの?と疑問がいっぱいという方も多いと思いますので、少しお話ししようと思います。 続きを読む → WTIブログ, 代行サービス
「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい? ~その2~ 2020年12月23日2020年12月23日 みなさんこんにちは。 第二技術部の張です。 前回のブログでは、パワー半導体のスイッチング評価において、測定環境が重要であることをお話ししました。今回も前回に引き続き測定環境に関する話をさせていただきます。 パワー半導体のスイッチング評価を行う測定環境を改善するために配線を見直すことがありますが、実は測定系の回路インダクタンスの大きさが定量的にわからないと改善は難しいのです。 ということで、今回は回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法についてお話しします。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その3~ 2020年11月27日 みなさん、こんにちは。 パワーデバイス設計課の中松です。 前回のブログでお話ししたパワーMOSFETのアバランシェ耐量試験の続きです。 前回、アバランシェエネルギーが同じであっても、試験条件が異なればMOSFETのジャンクション温度Tjは異なるため、単純に比較できないことをご説明しました。では、前回と同じデバイスで、L負荷の値L=3 µH、アバランシェ電流IAS=50 Aの場合(ケース③)を考えてみましょう。 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
PC98を使い続けるためには ~物作りの現場の生産設備周辺機器老朽化対策に一工夫!お客様の生産性を改善します~ 2020年11月17日2020年11月16日 みなさん、こんにちは。 初めての登場になります。 パワーデバイス設計課の島雄です。 私は半導体の生産に関わる業務に携わっています。 そこで今回、私の身近でありましたお客様の生産装置のお困り事についてお話ししたいと思います。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい? ~その1~ 2020年11月16日2020年11月13日 みなさんこんにちは。 第二技術部の張です。 今回は、パワーデバイス、パワーモジュールなどのパワー半導体のスイッチング評価についてお話します。 パワー半導体のスイッチング評価は何のために行うのでしょうか? 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その2~ 2020年10月30日 みなさん、こんにちは。 パワーデバイス設計課の中松です。 前回のブログでお話ししたパワーMOSFETのアバランシェ耐量試験の続きです。 前回、アバランシェエネルギーEASは 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その1~ 2020年10月23日2021年5月25日 みなさん、こんにちは。 パワーデバイス設計課の中松です。 前回のブログでは短絡試験についてお話ししましたが、今回は破壊試験繋がりで、パワーMOSFETのアバランシェ耐量試験についてお話ししたいと思います。 (パワーモジュール評価サービスはこちら) 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ