書籍『マインドマップ 最強の教科書』を読んで 2021年9月7日2021年9月8日 こんにちは、パワーデバイス設計課パワー設計第二ユニットの山下です。 よろしくお願いします。 コロナ禍の中、皆さんはどう過ごされていますか?私は少しの時間を読書に割きました。 読んだ本は小学館集英社プロダクションから出版されている、トニー・ブザン著『マインドマップ 最強の教科書』です。 続きを読む → WTIブログ, 自己啓発
ESD試験とは 2021年6月1日2021年5月31日 みなさん こんにちは。 パワーデバイス設計課の藤田です。 初めての登場になります。 私は業務の中で半導体製品の試験を行っています。製品の信頼性を確認するため様々な試験を行いますが、そのひとつとしてESD試験があります。 ESD試験は私が携わっている半導体製品にかぎらず、電気回路が搭載された製品で幅広く行われています。そのため、実際に業務の中で実施されている方も多いと思いますが、今回は改めてESD試験の意味について、できるだけ分かりやすくお話しさせていただきたいと思います。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
「パワーデバイスの基礎講座」のご紹介 2021年3月24日2021年3月22日 みなさんこんにちは。 営業の塩谷です。 今回は、「パワーデバイスの基礎講座」のご紹介をさせていただきます。 (当社の技術講座・オンライン講座はコチラ) 講座の紹介の前に、「パワーデバイスとは?」どういうデバイスかわかりますでしょうか?「聞いたことはあるけどよくわからない」、「聞いたこともない」という方もおられると思いますので簡単に説明します。 (当社の「パワーモジュール」評価サービスはコチラ) 続きを読む → WTIブログ, 営業, 教育, 電源・パワエレ
シャント抵抗について ~高精度に抵抗値を測定したい方へ~ 2021年2月24日2021年2月26日 こんにちは、パワーデバイス設計課の中本です。 よろしくお願いします。 2021年の3月11日で東日本大震災からちょうど10年の節目を迎えますが、2月13日に大きな地震が同様の場所で発生しました。専門家のインタビューで東日本大震災の余震であるとのコメントを聞きました。防災セットやポータブル電源を備えていた方、お風呂の水を貯めた方、その他10年前の教訓を生かして行動された方も多くいたようで、被災地の方の危機管理意識の高さに感心しました。 さて本題です。前回のブログではパワー半導体の評価に使用するオシロスコープの基礎知識について書かせていただきました。今回はパワエレ分野で使うシャント抵抗について書こうと思います。 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
地球温暖化対策とインバータの関係 2021年1月27日2021年1月27日 地球温暖化対策として、CO2の排出量を削減していくことが重要であることは言を待ちませんが、国内では約4割を占めるCO2の最大の排出源である電力部門の低炭素化が最も重要な対策の一つと言われています。 この電力部門の低炭素化については、いかにしてCO2排出量を下げながら電力を供給するのかということと、いかに消費電力量を低減していくかということが重要な課題です。 続きを読む → 教育, 社長ブログ, 電源・パワエレ
パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その3~ 2020年11月27日 みなさん、こんにちは。 パワーデバイス設計課の中松です。 前回のブログでお話ししたパワーMOSFETのアバランシェ耐量試験の続きです。 前回、アバランシェエネルギーが同じであっても、試験条件が異なればMOSFETのジャンクション温度Tjは異なるため、単純に比較できないことをご説明しました。では、前回と同じデバイスで、L負荷の値L=3 µH、アバランシェ電流IAS=50 Aの場合(ケース③)を考えてみましょう。 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
PC98を使い続けるためには ~物作りの現場の生産設備周辺機器老朽化対策に一工夫!お客様の生産性を改善します~ 2020年11月17日2020年11月16日 みなさん、こんにちは。 初めての登場になります。 パワーデバイス設計課の島雄です。 私は半導体の生産に関わる業務に携わっています。 そこで今回、私の身近でありましたお客様の生産装置のお困り事についてお話ししたいと思います。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その2~ 2020年10月30日 みなさん、こんにちは。 パワーデバイス設計課の中松です。 前回のブログでお話ししたパワーMOSFETのアバランシェ耐量試験の続きです。 前回、アバランシェエネルギーEASは 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その1~ 2020年10月23日2021年5月25日 みなさん、こんにちは。 パワーデバイス設計課の中松です。 前回のブログでは短絡試験についてお話ししましたが、今回は破壊試験繋がりで、パワーMOSFETのアバランシェ耐量試験についてお話ししたいと思います。 (パワーモジュール評価サービスはこちら) 続きを読む → WTIブログ, 電源・パワエレ
SiC, GaN, Ga2O3パワーデバイス・モジュール開発が活発化!? でも、課題もあります 2020年9月23日 最近、SiC, GaN, Ga2O3などのパワーデバイス、そしてそれらのデバイスを搭載したパワーモジュールの開発に関してのご依頼が増えてきております。 お客様のパワーデバイス・モジュール開発のご支援をさせていただいている当社から見ますと、SiC, GaN, Ga2O3などの化合物半導体系のパワーデバイスの開発には以下の3つの課題があると感じます。 続きを読む → 社長ブログ, 電波暗室・EMI, 電源・パワエレ