みなさんこんにちは。WTI設計第三課 課長の矢野です。
今回で5回目の登場になります。
前回、最新事例として、パワーモジュールのON/OFF通電試験をナショナルインスツルメンツ（NI）社の制御ボード（FPGA+リアルタイムOSを搭載）を用いた事例について、少し触れさせていただきました。 続きを読む 
みなさん WTI 応用機器設計部 設計第三課の矢野です。
２回目の登場です。
前回に引き続いて、カスタム計測のお話をしますね。
WTIの「カスタム計測」は、電気的な評価だけではないんです。 続きを読む 
みなさん、はじめまして。 WTI 応用機器設計部 設計第三課長の矢野です。
WTIブログ初登場です。どうぞよろしくお願いします。
今日は私の担当している、カスタム計測技術のお話をします。
実はこれ、世の中で提供されている技術サービスの中でも珍しい部類ではないかと密かに思っているんです。 続きを読む 
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク測でお困りでは？
微小電流評価は当社にご相談ください！●微小電流評価サービスとは
●微小電流評価サービス活用例
●微小電流評価の課題と当社特長
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
微小電流評価は、パワー半導体の信頼性試験や絶縁材料のリーク電流測定などでニーズが高まっています。主にµA以下の電流測定を必要とするような場面で、ご依頼いただくサービスとなります。自動車、半導体、電子部品、材料メーカー様などからも多くのご依頼実績があります。
- 微小電流(数十pA～µA程度)を多チャンネルで常時モニタリング(測定)可能
- 高電圧印可時(～1000 V)の微小電流測定が可能
- 温度：-40 ℃～150 ℃、湿度：30～95 ％rhまで対応
上記電圧・電流・温度範囲外の場合にも対応いたしますのでお問い合わせください。
- 任意の温度・湿度環境で、多数を同時に測定
- コンデンサ部品や半導体製品のリーク電流測定
- 絶縁材料のリーク測定
- AEC-Q101、AQG-324に準拠した評価
（HTRB、HTGB、H3TRB）その他、微小電流に関してお気軽にお問い合わせください！
微小電流の評価では、温度や測定環境(ケーブルや測定ボード自体)によっても誤差が生じ、安定した測定が課題となります。また多数のサンプルを同時に試験するとなると、その測定はさらに難しいものになります。
当社では、独自で開発・構築した環境を用いて、精度の高い微小電流測定を実現しています。
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 続きを読む
AEC-Q101・AQG-324に準拠した高温逆バイアス試験は
当社にお任せください！●高温逆バイアス試験とは
●HTRB試験の課題と当社の特長
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
高温逆バイアス試験とは、高温環境下において、最大定格温度にてドレイン・ソース(コレクタ・エミッタ)間に高電圧の逆バイアスを印加し、デバイスの信頼性レベルを確認する試験のひとつです。当社のHTRB試験は、AEC-Q101、AQG-324に準拠しています。HTRB試験と同様にHTGB試験、H3TRB試験にも対応が可能ですのでぜひご相談ください。
●高温逆バイアス(HTRB)
：最大定格温度にて、最大定格電圧をドレイン-ソース間に印加 ●高温ゲートバイアス（HTGB）
：最大定格温度にて、最大定格電圧をゲート-ソース間に印加 ●高温高湿逆バイアス（H3TRB）
：湿度85％、温度85℃の環境にて、ドレインに最大定格の80％を印加
AEC-Q101、AQG-32では、HTRB試験、H3TRB試験、HTGB試験において、バイアス試験中の随時電流モニターが必要となっております。逆バイアス試験時に流れる電流はデバイスのリーク電流であり、微小電流と呼ばれる領域になります。微小電流を正確に測定するには、計測に関する高い技術が必要となります。
シャント抵抗方式を用い簡易的に測定する方法もありますが、この方法では、一般にμＡ以下の電流を計測ことは難しく、正確な挙動を把握することができません。当社では、半導体に関する知見に加え、カスタム計測システム開発の中で長年培ってきた計測技術を活用し、連続かつ多チャンネルでの微小電流測定を実現しています。
- 微小電流(数百pA～µA程度)測定を多チャンネルで測定できる環境を保有
- 高電圧印可時(～1000 V)の微小電流測定が可能
- 温度：-40 ℃～150 ℃、湿度：30～95 ％rhまで対応 続きを読む
こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の井上です。
このたび、WTIでは微小電流評価サービスを開始しました。本サービスは半導体、電子部品、絶縁材料のリーク電流測定など、µA以下の電流測定に対応した受託評価サービスとなります。また、微小なリーク電流測定が要求される、車載向け電子部品の信頼性試験規格（AEC-Q101、AQG-324）に準拠した試験サービスにも対応します。
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みなさんこんにちは。営業の舟津です。
今回は、パワー半導体の熱抵抗についてお話をしたいと思います。
大電力を制御するためのMOSFETやIGBTなど、パワー半導体素子を使った回路では、その素子に加わる高電流・高電圧によって電力損失が生じ、高温で動作しますので、素子自体が定格温度内になっているかを確認する必要があります。
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みなさん、こんにちは。
第二技術部電源設計課の富永です。
以前にダイオードとFETについて、お話しさせて頂きましたので、今回は電源用チョークコイルについて、お話ししたいと思います。
ダイオードとFETは、各メーカの汎用品を選定しますが、電力が大きい電源で使用するチョークコイルは、汎用品が少なく、カスタム品を採用することが多いです。カスタム品は、自由に仕様を定めることができるのですが、それが故にどのようにして仕様を決めればよいのか判らない方も居られるかと思います。
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こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田（でんだ）です。
今回は車載用電子部品の信頼性試験規格についてお話しします。
WTIでは現在、「車載用電子部品規格準拠試験受託サービス」の立ち上げを進めています。これは、昨今増加傾向にあるAEC規格やAQG324規格に準拠した信頼性試験の需要に応えるための動きです。現在は、AEC-Q101のSSOP試験やAQG324のHTRB試験が実施できるよう、環境整備をしているところです。
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みなさんこんにちは。電源設計課の合田です。