高温逆バイアス試験サービス（AEC-Q101、AQG-324準拠）
AEC-Q101・AQG-324に準拠した高温逆バイアス試験は
当社にお任せください！●高温逆バイアス試験とは
●HTRB試験の課題と当社の特長
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
高温逆バイアス試験(HTRB：High Temperature Reverse Bias)とは
高温逆バイアス試験とは、高温環境下において、最大定格温度にてドレイン・ソース(コレクタ・エミッタ)間に高電圧の逆バイアスを印加し、デバイスの信頼性レベルを確認する試験のひとつです。当社のHTRB試験は、AEC-Q101、AQG-324に準拠しています。HTRB試験と同様にHTGB試験、H3TRB試験にも対応が可能ですのでぜひご相談ください。
●高温逆バイアス(HTRB)
：最大定格温度にて、最大定格電圧をドレイン-ソース間に印加 ●高温ゲートバイアス（HTGB）
：最大定格温度にて、最大定格電圧をゲート-ソース間に印加 ●高温高湿逆バイアス（H3TRB）
：湿度85％、温度85℃の環境にて、ドレインに最大定格の80％を印加
HTRB試験の課題と当社の特長
AEC-Q101、AQG-32では、HTRB試験、H3TRB試験、HTGB試験において、バイアス試験中の随時電流モニターが必要となっております。逆バイアス試験時に流れる電流はデバイスのリーク電流であり、微小電流と呼ばれる領域になります。微小電流を正確に測定するには、計測に関する高い技術が必要となります。
シャント抵抗方式を用い簡易的に測定する方法もありますが、この方法では、一般にμＡ以下の電流を計測ことは難しく、正確な挙動を把握することができません。当社では、半導体に関する知見に加え、カスタム計測システム開発の中で長年培ってきた計測技術を活用し、連続かつ多チャンネルでの微小電流測定を実現しています。
- 微小電流(数百pA～µA程度)測定を多チャンネルで測定できる環境を保有
- 高電圧印可時(～1000 V)の微小電流測定が可能
- 温度：-40 ℃～150 ℃、湿度：30～95 ％rhまで対応
- 上記電圧・電流・温度範囲外の場合にも対応いたしますのでお問い合わせください
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高精度微小電流測定用設備 |
多チャンネル用オリジナル基板 |
お客様からのご要望が急増している評価サービス
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。 AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。 測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。
WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。
