車載用半導体向け信頼性試験サービス（AEC-Q101、AQG-324準拠）
車載用半導体（個別半導体およびパワーモジュール）の信頼性試験でお困りではないでしょうか？当社では、AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託試験サービスを提供しております。
当社における車載用半導体向け信頼性試験サービスの特長
AEC-Q101、AQG-324の試験項目の中には、バイアス試験中の随時電流（リーク電流）モニターや、定格電力の長時間連続印加等、所望の試験を実現させるために環境を構築する技術が必要となる項目があります。
当社では、半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測技術を保有しており、これら課題に応える形で受託評価サービスを提供しております。
当社へのお問い合わせが急増している規格信頼性試験
規格
試験名称
記号
参照規格 AEC-Q101
定常動作試験
SSOP
MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB 高温逆バイアス
HTRB
MIL-STD-750-1 M1038 Method A 高温ゲートバイアス試験
HTGB
JESD22 A-108 高温高湿逆バイアス試験
H3TRB
JESD22 A-101 AQG-324
高温逆バイアス
HTRB
QL-05
IEC 60747-9:2007 section 7.1.4.1 (IGBT)
IEC 60747-8:2010 (MOSFET)
IEC 60747-2:2016 (diode)
IEC 60749-23:2011高温ゲートバイアス試験
HTGB
OL-06
IEC 60747-9:2007 section 7.1.4.1 (IGBT)
IEC 60747-8:2010 (MOSFET)
IEC 60749-23:2011高温高湿逆バイアス試験
H3TRB
QL-07
IEC 60747-9:2007 (IGBT)
IEC 60747-8:2010(MOSFET)
IEC 60747-2:2016 (diode)
IEC 60749-5:2017
AEC-Q101：車載用個別半導体を対象とした信頼性試験規格
AQG-324 ：車載用パワーコンバータユニット(PCU)に使用されるパワーモジュールを対象とした信頼性試験規格
お客様からのご要望が急増している評価サービス
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。
パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。
AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。
測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。
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