みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。
さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか？
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。
みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。
さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか？
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。
みなさんこんにちは。
第二技術部の中松です。
今回は、パワー半導体（パワーデバイス単体やパワーモジュール）のスイッチング評価における電流測定について少しお話をしたいと思います。
パワー半導体のスイッチング評価に関するこれまでのブログは下記をご参照ください。
「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい？ ～その１～
「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい？ ～その２～
みなさん、こんにちは。第一技術部 光デバイス設計課長の小林です。
どうぞよろしくお願いします。
今回のブログは、半導体製品のESDやサージ対策についてご紹介したいと思います。半導体製品の故障原因の最も代表的なものとしてESDやサージによる半導体素子の劣化があげられます。まずは、ESDとサージについて簡単にご説明します。
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みなさん、こんにちは！
WTI第二技術部カスタム技術課の川中です。
今回は、受託評価サービスとして開始する予定の、「超低抵抗評価サービス」について紹介していきますね。
みなさん、低抵抗って、どのようなイメージを持っていますか？大電流の検出では、mΩオーダーの抵抗を用い、I/V変換によって電流を検出するような用途でよく用いられます。詳しくは「シャント抵抗について ～高精度に抵抗値を測定したい方へ～」でも紹介をしていますのでご覧ください。
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みなさんこんにちは。
2回目の登場となります電源設計課の清水です。
前回に続き、今回も太陽光発電に使われるパワーコンディショナ（パワコン）に求められる機能について紹介します。
【関連リンク】
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みなさん、こんにちは！ 第一技術部光デバイス設計課の鳳山です。
入社一年目のときに投稿して以来、約3年ぶりの投稿です。
私は、お客様の事業場所に駐在し、お客様と共に業務を遂行するエンジニアリング部門に所属しています。主に半導体デバイスの開発設計業務に従事しており、お客様と共に開発品の特性評価や信頼性検証などを実施しています。（WTIの技術紹介パンフレット一覧はこちら）
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みなさん、こんにちは。電源設計課 渡邊です。
私は前回、【WTIブログ：ブレーカーの種類と役割】の中で、遮断器（ブレーカー）は、一般の家庭に設置している分電盤にもある、とお話ししました。
その役割は大別して「契約の順守（電流値）」＝アンペアブレーカーと、安全の確保」＝漏電ブレーカー・安全ブレーカーでした。そこで、今回は安全に関連したお話をしたいと思います。
みなさん、こんにちは。光デバイス設計課の山野です。
みなさん こんにちは。
みなさん、こんにちは。第二技術部 電源設計課 電源設計第一ユニットの島村です。