大型防水試験用水槽(IPX7)設備の導入 2024年7月11日2024年7月12日 みなさん、こんにちはWTI構造設計課の木谷です。 防水試験・設計について、多くのお問い合わせをいただいている中で最近は大型筐体の防水試験(IPX7)に関するものが増えてきました。 そこでご要望に応えるために大型水槽を導入しました。 防水試験IPX7(大型筐体対応)の水槽 水槽サイズは外径: W2000 x D1800 x H1600(mm)となっており、大型筐体の防水試験(IPX7)が可能です。 続きを読む → WTIブログ, 機構・筐体, 評価・試験
微小電流評価サービスを開始しました!規格に準拠したHTRBにも対応 2024年6月4日2024年6月4日 こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の井上です。 このたび、WTIでは微小電流評価サービスを開始しました。本サービスは半導体、電子部品、絶縁材料のリーク電流測定など、µA以下の電流測定に対応した受託評価サービスとなります。また、微小なリーク電流測定が要求される、車載向け電子部品の信頼性試験規格(AEC-Q101、AQG-324)に準拠した試験サービスにも対応します。 続きを読む → WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング, 評価・試験
「パワー半導体」スイッチング評価の電流測定 その2 ~カレントトランスとロゴスキーコイルの特徴~ 2024年4月16日2024年4月17日 みなさんこんにちは パワーデバイス設計課の伊達です。 前回のブログ「パワー半導体」スイッチング評価の電流測定では、電流測定に使用するカレントトランスとロゴスキーコイルの特徴についてお話ししました。 今回は、ロゴスキーコイルを使用した場合のスイッチング評価についてお話します。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
オシロスコープを用いた波形測定の注意点 2024年2月6日2024年2月6日 みなさんこんにちは。システム設計課の則信です。 今回のブログでは電気信号を測定する際に用いるオシロスコープの波形測定時の注意点についてお話しします。 ● 波形測定時のノイズ オシロスコープで波形を測定するときに高周波になるほど図1のようなリンギングノイズが発生しやすくます。また、周辺のノイズが多い場合には図2のように測定波形にノイズが重畳されることがあります。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験
車載用電子部品の規格に準拠した試験サービス立ち上げに向けて 2023年12月19日2024年2月7日 こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田(でんだ)です。 今回は車載用電子部品の信頼性試験規格についてお話しします。 WTIでは現在、「車載用電子部品規格準拠試験受託サービス」の立ち上げを進めています。これは、昨今増加傾向にあるAEC規格やAQG324規格に準拠した信頼性試験の需要に応えるための動きです。現在は、AEC-Q101のSSOP試験やAQG324のHTRB試験が実施できるよう、環境整備をしているところです。 続きを読む → WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング, 評価・試験
「パワー半導体」の信頼性試験について 2023年6月13日2023年6月13日 みなさんこんにちは。 第二技術部の中松です。 パワー半導体(パワーデバイスやパワーモジュール)の信頼性試験について少しお話をしたいと思います。 パワー半導体の信頼性試験には、 環境試験としては、温度サイクル試験などが、 耐久試験としては、パワーサイクル試験、高温ゲートバイアス試験、高温逆バイアス試験など があります。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ
AEC準拠試験に「計測評価プラットフォーム」を活用♪ 2023年2月14日 こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。 今回はAEC(※)準拠試験のひとつである、SSOP試験についてご紹介します。 SSOPとは、Steady State Operatingの略で定常動作という意味です。つまり一定の状態で動作させる試験ということになります。これは電気及び温度ストレスによる耐性を評価するための試験になります。 続きを読む → WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング, 評価・試験
イーサネット(Ethernet)について 2023年1月17日 みなさんこんにちは。システム設計課の米谷です。 イーサネットとは、主に建物内でパソコンや電子機器をケーブルで繋いで通信する有線LANの標準規格の一つで、最も普及している規格です。今回はこのイーサネットについてお話させていただきます。 (当社の電気設計受託サービス、サブスクエンジニアリングサービスはこちら) 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 高周波・無線
半導体デバイスは水に弱いの? 2022年11月29日2022年11月25日 皆様、こんにちは。光デバイス設計課の長冨です。 前回のブログでは発光素子(LD)の故障事例紹介でしたが、今回は半導体デバイスの耐水性について紹介したいと思います。 みなさんは半導体を製造するのに大量の水が必要なのはご存じですか? 微細な加工をおこなっている半導体にゴミなどの異物が付着すると、正常に動作しなくなってしまいます。 続きを読む → WTIブログ, 光通信・デバイス, 評価・試験
ダイオードのせん頭サージ電流(IFSM)とは 2022年11月1日 みなさん、こんにちは パワーデバイス設計課の中松です。 今回のブログでは、ダイオードのせん頭サージ電流(IFSM)についてお話ししたいと思います。 IFSMは、図1のように商用周波数(50Hz or 60Hz)の正弦半波1サイクルでの最大許容電流値です。 続きを読む → WTIブログ, 評価・試験, 電源・パワエレ