微小電流評価サービスを開始しました！規格に準拠したHTRBにも対応

2024年6月4日

こんにちは。第二技術部　カスタム技術課の井上です。

このたび、WTIでは微小電流評価サービスを開始しました。本サービスは半導体、電子部品、絶縁材料のリーク電流測定など、µA以下の電流測定に対応した受託評価サービスとなります。また、微小なリーク電流測定が要求される、車載向け電子部品の信頼性試験規格（AEC-Q101、AQG-324）に準拠した試験サービスにも対応します。

今回はその信頼性試験規格に準拠した試験の中で、高温逆バイアス試験（HTRB試験）について概説した後、WTIの微小電流評価サービスの特徴についてご紹介したいと思います。

AEC-Q101、AQG-324などの車載向け電子部品の信頼性試験規格については、以下のブログでご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。
　　　⇒車載用電子部品の規格に準拠した試験サービス立ち上げに向けて

高温逆バイアス(HTRB)試験の概要

高温逆バイアス試験（HTRB：High Temperature Reverse Bias）とは、トランジスタやダイオードといった半導体デバイスが、高温環境や高電圧の逆バイアスストレスに対してどれだけ耐性があるかを評価するための試験です。細かな試験条件が異なる場合がありますが、AEC-Q101、AQG-324の両方に対応する試験となっています。

具体的に、AEC-Q101のドキュメントにはHTRB試験について以下のような記述が示されています。

表 1　HTRB試験の概要

試験方法はMIL規格のうちMIL-STD-750を参照にしており、追加要件も含めて主な試験条件は以下のようになります。

表 2　AEC-Q101規格におけるHTRB試験の主な試験条件

項目	内容
バイアス値	・ダイオード類の場合　逆電圧の最大定格電圧・トランジスタ類の場合　V_CEまたはV_DSの最大定格電圧
周辺温度	最大定格温度
試験時間	1000 h
サンプル数	77 サンプル / ロット　×　3 ロット
その他	試験前後において、製品の使用方法などに適した条件で、室温にて動作確認を実施する。