みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。

さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか？
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。

私の周りでも新規開発品が多く、いろいろな装置を何台も何台も…つなぎ合わせて立ち上げた評価系などをよく目にします。

ただ、このような評価系って意外と立ち上げに費用や時間がかかりますよね。
このようなお悩みをお持ちのお客様に弊社が開発した「多用途通電システム」をご提案させていただきます。これは専用電源とそれを制御するプログラムからなり、100チャネル以上の電源が19インチラックに収まってしまうというものです。

 

図1　多用途通電システムの概略図

 

さらに、内部のユニットを組み合わせることで多方面の用途での使用が可能となります。

また、オプション機能として電流遮断回路によるサンプル保護機能や自動測定機能などもあり、ご要望に応じてカスタムで機能を追加することも可能です。

 

表1　仕様

内容	特徴
専用電源数	最大8電源の並列化が可能
ユニット数	最大8ユニット搭載が可能
ユニット	電圧源ユニット① ： 12～150V (～5mA)
	電圧源ユニット② ： ０～±20V (～±5mA)
	電流源ユニット ：  0～200mA (3.5V max)
	マルチメータユニット ： (分解能) 10μV / 100μA
	スイッチユニット
	I/Oユニット ： 3.5 V / 5 V
オプション機能	GND分離 あり/なし
	電流遮断回路 (ESD/EOS対応、0.1ms)
	カスタムインターフェース
ソフトウェア	専用ソフトウェア (カスタマイズ可能)
通信	USB (RS232C)

 

通電装置は基本的に高額となりますので、弊社では、お客様の予算や要望に応じて、試験条件、チャネル数、機能を取捨選択およびカスタマイズいたします。

通電試験に関してお困りごとがありましたら、お気軽にWTIまでお問合せください。

 

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