みなさんはじめまして、第一技術部　光デバイス設計課長の小林です。よろしくお願いします。 光デバイス設計課は、その名のとおり、光デバイス関連の業務を遂行していますが、私は設計そのものではなく品質保証関連の業務に従事しています。 今回は、私が従事する品質保証業務で扱う信頼性技術について簡単にご紹介したいと思います。 ■信頼性技術とは？ 信頼性技術とは何なのでしょうか。まずはこの点からご説明したいと思います。 信頼性技術は、様々な信頼性試験を実施し、製品の故障がどのように発生するのかを評価・解析し、故障メカニズムを理解することによって製品の信頼性を向上させる技術のことです。簡単に要約すると“良品から不良品となるプロセスを取り扱うのが信頼性技術”となります。 なお、故障を作り出す因子は、大きく3つあります。

1. 潜在的に内在する弱点（内因）
2. 使用環境の温度/湿度変化や実使用で加わる熱などの外的なストレス（外因）
3. 経時劣化

これらの因子を開発段階で調査するために様々な環境試験や使用条件に基づく模擬試験、破壊試験、限界試験などを実施し、信頼性に問題なし！となったら製品が世の中にリリースされます。 上記のような試験で一番のネックとなるのが、試験期間が長いという点です。 試験内容によっては5000hも実施することがあり、約7か月もの間試験を継続実施しています。 試験の後半で故障したら目も当てられませんので、そうならないように、設計部門に信頼性試験結果や故障解析で得られた情報や知識をフィードバックすることが品質保証業務における最も重要なミッションとなります。 ただし、信頼性に問題なしということで出荷しても、市場で故障して返却される製品も残念ながら発生してしまいます。品質保証業務にはクレーム処理もありますので、かなりのプレッシャーや責任がかかります。 しかし、様々な現象やメカニズムを追究することができるので面白さもあります。製品の故障解析や信頼性試験、寿命予測などに興味があれば何なりとご相談していただければ幸いです。 最後にWTIでは、半導体に関する評価や解析用治具の設計・製作、故障解析、効率的な評価設備構築（例えば自動評価系など）、等のご提案も実施しています。 半導体デバイスやその評価に関してお困りごとがございましたら、お気軽にWTIまでお問合せください。 【関連リンク】

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