車載用半導体（個別半導体およびパワーモジュール）の信頼性試験でお困りではないでしょうか？当社では、AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託試験サービスを提供しております。
AEC-Q101、AQG-324の試験項目の中には、バイアス試験中の随時電流（リーク電流）モニターや、定格電力の長時間連続印加等、所望の試験を実現させるために環境を構築する技術が必要となる項目があります。
当社では、半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測技術を保有しており、これら課題に応える形で受託評価サービスを提供しております。
規格
試験名称
記号
参照規格 AEC-Q101
定常動作試験
SSOP
MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB 高温逆バイアス
HTRB
MIL-STD-750-1 M1038 Method A 高温ゲートバイアス試験
HTGB
JESD22 A-108 高温高湿逆バイアス試験
H3TRB
JESD22 A-101 AQG-324 続きを読む
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク測でお困りでは？
微小電流評価は当社にご相談ください！●微小電流評価サービスとは
●微小電流評価サービス活用例
●微小電流評価の課題と当社特長
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
微小電流評価は、パワー半導体の信頼性試験や絶縁材料のリーク電流測定などでニーズが高まっています。主にµA以下の電流測定を必要とするような場面で、ご依頼いただくサービスとなります。自動車、半導体、電子部品、材料メーカー様などからも多くのご依頼実績があります。
- 微小電流(数十pA～µA程度)を多チャンネルで常時モニタリング(測定)可能
- 高電圧印可時(～1000 V)の微小電流測定が可能
- 温度：-40 ℃～150 ℃、湿度：30～95 ％rhまで対応
上記電圧・電流・温度範囲外の場合にも対応いたしますのでお問い合わせください。
- 任意の温度・湿度環境で、多数を同時に測定
- コンデンサ部品や半導体製品のリーク電流測定
- 絶縁材料のリーク測定
- AEC-Q101、AQG-324に準拠した評価
（HTRB、HTGB、H3TRB）その他、微小電流に関してお気軽にお問い合わせください！
微小電流の評価では、温度や測定環境(ケーブルや測定ボード自体)によっても誤差が生じ、安定した測定が課題となります。また多数のサンプルを同時に試験するとなると、その測定はさらに難しいものになります。
当社では、独自で開発・構築した環境を用いて、精度の高い微小電流測定を実現しています。
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 続きを読む
AEC-Q101・AQG-324に準拠した高温逆バイアス試験は
当社にお任せください！●高温逆バイアス試験とは
●HTRB試験の課題と当社の特長
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
高温逆バイアス試験とは、高温環境下において、最大定格温度にてドレイン・ソース(コレクタ・エミッタ)間に高電圧の逆バイアスを印加し、デバイスの信頼性レベルを確認する試験のひとつです。当社のHTRB試験は、AEC-Q101、AQG-324に準拠しています。HTRB試験と同様にHTGB試験、H3TRB試験にも対応が可能ですのでぜひご相談ください。
●高温逆バイアス(HTRB)
：最大定格温度にて、最大定格電圧をドレイン-ソース間に印加 ●高温ゲートバイアス（HTGB）
：最大定格温度にて、最大定格電圧をゲート-ソース間に印加 ●高温高湿逆バイアス（H3TRB）
：湿度85％、温度85℃の環境にて、ドレインに最大定格の80％を印加
AEC-Q101、AQG-32では、HTRB試験、H3TRB試験、HTGB試験において、バイアス試験中の随時電流モニターが必要となっております。逆バイアス試験時に流れる電流はデバイスのリーク電流であり、微小電流と呼ばれる領域になります。微小電流を正確に測定するには、計測に関する高い技術が必要となります。
シャント抵抗方式を用い簡易的に測定する方法もありますが、この方法では、一般にμＡ以下の電流を計測ことは難しく、正確な挙動を把握することができません。当社では、半導体に関する知見に加え、カスタム計測システム開発の中で長年培ってきた計測技術を活用し、連続かつ多チャンネルでの微小電流測定を実現しています。
- 微小電流(数百pA～µA程度)測定を多チャンネルで測定できる環境を保有
- 高電圧印可時(～1000 V)の微小電流測定が可能
- 温度：-40 ℃～150 ℃、湿度：30～95 ％rhまで対応 続きを読む
AEC-Q101に準拠した定常動作試験(SSOP)は
当社にお任せください！
●当社定常動作試験の課題と当社特長
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
- Vz = 0～53 V、Iz = 2 mA～250 mAまでの印加(1chあたり)が可能です
- 上記電圧・電流範囲外の場合にも対応いたしますのでお問い合わせください
SSOP試験では、ツェナーダイオード（ZDi）に対し定格電力の長時間連続印可が必要となっております。AEC-Q101では77台/ロット×3ロットの試験が必要と定義されており、これを同時に複数の製品に対し行う必要があります。
当社では、半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測技術を保有しており、これら課題に応える形でSSOP試験を受託試験サービスとして提供しております。
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 続きを読む
こんにちは、技術教育センターの原田です。
うれしいお知らせです。新たな一歩が始まりました。当社では、24年度の新入社員研修がスタートしました！
2024年3月19日のブログ“1年間の新人研修が終わりを迎えます”で河野から23年度の研修総括がされたばかりですが、4月になって新たなメンバーが加わり、心機一転、次なるステージの幕開けです。
みなさん こんにちは。技術教育センターの河野です。
約1年ぶりのブログとなります。
昨年の4月に6名の新入社員が当社に入社され、ほぼ１年が経過しようとしています。当社では1年間研修生として配属先でのOn the Job Training(OJT)に加え、技術教育センターが主催するOff the Job Training(Off-JT)を実施します。この1年間でさまざまな研修メニュー(Off-JT)を実施しました。それらをご紹介します。
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みなさんこんにちは。営業の舟津です。
今回は、パワー半導体の熱抵抗についてお話をしたいと思います。
大電力を制御するためのMOSFETやIGBTなど、パワー半導体素子を使った回路では、その素子に加わる高電流・高電圧によって電力損失が生じ、高温で動作しますので、素子自体が定格温度内になっているかを確認する必要があります。
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こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田（でんだ）です。
今回は車載用電子部品の信頼性試験規格についてお話しします。
WTIでは現在、「車載用電子部品規格準拠試験受託サービス」の立ち上げを進めています。これは、昨今増加傾向にあるAEC規格やAQG324規格に準拠した信頼性試験の需要に応えるための動きです。現在は、AEC-Q101のSSOP試験やAQG324のHTRB試験が実施できるよう、環境整備をしているところです。
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定常動作試験(Steady State Operational：SSOP)とは、ツェナーダイオード（ZDi）に対し定格電力を連続的に長期間印加する試験です。当社のSSOP試験は、AEC-Q101に準拠しており、環境構築を含め対応することが可能です。