Wave Technology(WTI) | 半導体周辺回路とその応用製品の開発・設計会社

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

カスタム計測システム・受託評価

Wave Technology(WTI)では、お客様の研究開発環境で求められる機能を、オーダーメイドの「カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)」と受託評価サービス(評価業務の請負サービス)という形でご提供しております。

カスタム計測システム設計開発会社である当社は、半導体及びその応用製品に関する高い技術を保有しており、お客様のお困りごとに対し、設計者目線で解決策を提案していくことが特徴です。

ご要望に合わせ、下記二つのサービスをご用意しております。

  • カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)
  • 受託評価サービス(評価業務の請負サービス)

近年は、車載用の電子部品でAEC準拠の試験・評価需要も増えつつあり、お客様のご要望に添えるようサービス内容の拡充を進めているところです。

 

カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)

カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)

計測評価の自動化、各種モニタリングシステム、制御システム、データや波形解析の自動化解析ツール等、お客様のお困りごとに対し、長年培ったハード/ソフトの技術を活用して、課題解決していくことが特徴です。

  • 完成品としてのシステム提供
  • レンタル・リースによるシステム提供
  • お客様との契約に基づく受託開発

等、お客様のニーズに合わせ、課題解決のためのサービスを提供しております。

 

受託評価サービス(評価業務の請負サービス)

受託評価サービス(評価業務の請負サービス)半導体をはじめとする各種電子部品や製品の電気特性や温度特性等の特性評価を請け負うサービスです。

  • 評価環境の設計開発を伴う受託評価
    ・自動評価環境の構築
    ・評価用基板の回路/基板設計・製作
    ・計測評価用ソフトウェアの開発
      ※NI社のLabVIEWTMを活用
     (PCベースの開発からリアルタイム性を必要とする組み込みベースの開発まで)
  • 環境試験槽と連動した評価及び信頼性試験
    ・温度特性評価
    ・信頼性評価
  • パワーデバイスを含む車載電子部品の信頼性関連評価(AEC準拠の試験への対応)
  • リバースエンジニアリングと連動した評価のご提案

※LabVIEWは、NI社の登録商標です。

お困りごとがございましたら、ぜひ一度、当社のサービスをご利用ください。

お客様からのご要望が急増している評価サービス

 

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カスタム計測システム 受託評価サービス

 

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