カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）
カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）について
【カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）】とは
- お客様の研究開発環境で求められる機能をオーダーメイドの「カスタム計測システム」という形でご提供いたします。
- 電子部品や製品に関する計測・評価システムをカスタム製作・開発受託するサービスです。
こんな方にオススメです
- 測定する必要があるが測定方法に不安があるので測定環境を構築してほしい
- 少し変わった評価をしたいが具体化のアイデアがない
- 市販計測器だけでは対応出来ない測定をしたい (ハード・ソフトを専用設計)
- 自動計測を行いたいがプログラミングは苦手
計測評価の自動化、各種モニタリングシステム、制御システム、データや波形解析の自動化解析ツール等、お客様のお困りごとに対し、長年培ったハード／ソフトの技術を活用して、課題解決していくことを特徴としております。
お客様からのご要望が多かったシステムはオリジナル商品として販売しております。
- 完成品としてのシステム提供
- レンタル・リースによるシステム提供
- お客様との契約に基づく受託開発
等、お客様のニーズに合わせ、課題解決のためのサービスを提供しております。
当社ではNI社のハードウエア／ソフトウエア（LabVIEWTM）を活用しながら、不足する領域はカスタム設計する形を得意としております。
超低抵抗評価（μΩやnΩ）や微小電流（nAやpA）、微小電圧（nV）、大電流（300 A）、高電圧（600 V/1200 V）等、ニッチ領域での要素技術に関するご要望も増えつつあります。
評価業務のアウトソーシングをお考えのお客様向けには、受託評価サービスをご提供しております。
計測システムの開発要素
標準的な計測システムは図1で構成されます。
図1 標準的な計測システム構成この計測システムの開発要素は以下のとおりです。これらの開発要素は個別サービスとしてもご提供いたしております。
- 使用する計測器や計測モジュールの選定
- 計測用回路の設計・製作
- 測定対象とシステムを接続する治具の設計・製作
- システムを制御するためのツール・ソフトウェア開発
計測器と計測対象間のインターフェース回路や、微小電流アンプ等の計測モジュールを設計・製作します。
多チャンネル測定向けのリレー基板や絶縁基板などのインターフェース回路、市販の計測器では対応が難しい高感度測定用モジュール（微小電流、微小電圧、低抵抗など）といったカスタム回路を設計いたします。
図2 測定用基板製作例測定対象製品へのプロービングや、配線引き出しに便利な治具を設計・製作します。カスタム製作のため、ユニーク形状にも対応可能です。また、電気特性も考慮した設計をいたします。
図3 治具製作例計測器の通信制御や、測定データ解析などを行うPCアプリケーションを開発します。
当社では主に、プログラミング言語“LabVIEWTM”を使用したアプリケーションを開発しています。
LabVIEWTMアプリケーションは、豊富なライブラリを利用したリッチなGUI（グラフィカル・ユーザー・インターフェース）の作成が可能で、データの可視化や直感的な操作性を実現できます。
図4 ツール作成例
計測に関する多様なご要望にお応えいたします
- LabVIEWTMを使用したPCベースの計測システムのため、PC向けの周辺機器の活用や、リッチなGUIを実現することができます。
- Real-TimeコントローラやFPGAを組み合わせることで、ナノ秒（ns）レベルのタイミング制御を高い精度で実現することができます。
- モジュール式計測システムを採用することで、システムの機能拡張が容易となります。
- モジュール製品では対応の難しい領域（高電圧/大電流/高感度測定など）は、ベンチトップタイプの計測器との組み合わせや、カスタムボードの製作なども組み合わせて対応することも可能です。
事例
導通抵抗モニタリングシステム
詳細は↑をクリックはんだ接合部などの電気的な接続に関する信頼性評価を目的とした多CHの抵抗測定システムです。温度と抵抗値を定期的に測定し、試験中の抵抗値変動をモニタします。温度測定結果からサイクル数をカウントする方式のため、試験槽のメーカーに依らず使用可能です。4 線式抵抗測定で 最小48CH～最大288CHまで構成可能です。
※ 標準システムとして販売しております。特設ページはこちらカーブトレーサ自動測定システム
詳細は↑をクリックカーブトレーサ（370型及び370A型）を連結及び信号分配する中継BOXを製作します。カーブトレーサと中継BOXを制御して、自動測定する環境を構築します。環境構築後に当社で受託評価も対応可能です。 データ自動解析ツール／レポート作成
詳細は↑をクリック取得した生データに対し、必要データの抽出、や解析を行い、エクセル等のファイルに出力するツールです。人手で行われる作業を自動化することで、作業者の測定誤差ばらつきを軽減し誤ったデータを取り扱うことがなくなります。 高速多チャンネル温度集録システム 装置内の温度分布の測定を目的とした多CHの温度集録システムです。
最大95 S/s , 8CH以上 (CH数はご要望に応じて拡張可能です。)
セミカスタムの熱電対との組み合わせで高速な温度変化の測定を実現。
半導体開発、液晶ディスプレイのLEDバックライト評価等で採用いただいております。※ 熱解析や受託評価も対応可能です。トランス唸り音評価システム トランスやリアクトルなどの唸り音を音響測定用のマイクで測定し、定量的にFAIL/PASS判定するシステムです。 瞬断検知システム
(衝撃試験機連動)落下試験機、温度サイクル試験槽等と連動し、ハンダ接合部の瞬断を多チャンネルで同時測定できます。最小1 μsの瞬断を検知することが可能です。 多ピンI-Vカーブ測定システム ICの故障解析のために、多ピンICのI-Vカーブを自動測定するシステムです。 自動配線チェッカー 多ピンのケーブルが正しく結線できているか自動でチェックするシステムです。配線チェックなどで利用できます。 センサアレイ SPI I/Fを持つセンサを、基板上に格子状に配置し、信号強度の分布測定を行うシステムです。 ゲートドライブ用
多CH 信号発生器パワーデバイスの信頼性試験を目的とした多CHの信号発生器です。
FPGAにより、44CH(ハイサイド/ローサイドで22組分)の信号発生が可能です。原理試作
(プロトタイプ試作)モジュール式計測器やRT(Real-Time)コントローラなどを組み合わせてアイデアを実現可能かの検証を目的とした原理試作を行います。高精度なタイミングでの測定と信号処理により、性能がどの程度向上するかなどの検証が可能です。 電池監視基板検査装置 バッテリー（電池）の状態を監視するための検査基板の性能を検査するための検査装置です。治具内に必要な機器を内蔵し、PCベースで検査することが可能です。 バイアス試験装置 半導体デバイスのバイアス用試験治具からバイアス装置まで対応可能なシステムです。 圧力センサ評価システム 半導体圧力センサの特性を自動で検査するためのシステムです。各種計測器を組み合わせてご提案いたします。 測定器中継ボックス 計測器同士を接続するための中継BOXをシステム設計し評価の効率化をご提案いたします。 各種計測器制御(シリアル/GPIB/Ethernet/USB) 各種通信プロトコルを使い、自動計測環境を構築いたします。 磁気シールド効果測定治具 静磁場に対するシールド評価を目的とした治工具及び試験環境を構築します。当社シミュレーションサービスと組み合わせた整合評価も対応可能です。 各種試験槽連動システム 温度サイクル槽、高温槽、高温高湿槽等の運転状態を自動でモニタリングまたは制御することが可能なシステムです。他の計測器と連動して、セミカスタムな検査・モニタリングシステム環境が構築可能です。 半導体用カスタム
ソケット/プローブ治具カスタム仕様の検査用ソケット製作を行います。 エレベータ用センサ
評価治具エレベータの位置検出に使われるセンサを評価するための治工具設計をいたします。 LED温度評価用治具 チップLEDの表面温度を測定するための、極細熱電対とマニピュレータを搭載した治具を製作いたします。 ※LabVIEWは、NI社の登録商標です。
標準システム販売
お客様から特にご要望の多かったシステムに関しては標準システムとしてご準備いたしました。
今後、順次拡充していきます。
- 導通抵抗や容量の変化を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。
- 主に、部品・材料接部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。
WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。
